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偏振相關損耗測試儀│PDL-201

PDL測試儀

采用專利最大最小搜索技術,PDL測試儀能在30 ms內(nèi),同時測量待測器件的偏振相關損耗(PDL),插入損耗(IL)和光功率。使用擾偏法測量的PDL具有很高的不確定性。與這種方法不同,PolaCHEXTM有條理地搜索最大和最小透過率,確保了具有較高和較低PDL值的器件在任何時刻的測量精度,可獲得最精確的PDL值。
主要特征 
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產(chǎn)品特點
. 30 ms的測量速度
典型應用
·較寬的波長范圍
產(chǎn)品特征
-PDL測量精度高
標準模塊光學參數(shù)
參數(shù) 主要參數(shù)信息
PDL-201
波長 1260-1620 nm
分辨率 0.01 dB
PDL精確度1 2 3 ±(0.01 + 5 of PDL)(dB)
PDL重復性1 ±(0.005+ 2 of PDL)(dB)
PDL動態(tài)范圍4: 0 to 45 dB
IL精確度1 2 3 ±(0.01 + 5 of lL)(dB)
IL重復性1 ±(0.005 dB + 2 of lL)(dB)
IL動態(tài)范圍4 0 to 45 dB
輸入光功率 -40 to 6 dBm
光功率精度 ±0.25 dB
波長校準(功率測量) 1260-1360 nm ; 1440-1620 nm
測量速度 30 ms/次(input -30 dBm)
操作溫度 0 to 50℃
存儲溫度 -20 to 70°C
光連接器類型 光源、DUT輸入:APC
DUT輸出:自由空間適配器
模擬輸出 0-4V PDL監(jiān)控電壓(用戶自定義PDL范圍)
(0-3.5V PDL線性變化 4V指示低功率)
電源供應 100-240VAC 50-60Hz
通訊接口 USB Ethernet RS-232 and GPIB
尺寸 2U 19”半架寬度3.5"(H)× 8.5"(W)×14"(L)