產(chǎn)品中心
偏振相關(guān)損耗測試儀│PDL-201
PDL測試儀
采用專利最大最小搜索技術(shù)，PDL測試儀能在30 ms內(nèi)，同時(shí)測量待測器件的偏振相關(guān)損耗(PDL)，插入損耗(IL)和光功率。使用擾偏法測量的PDL具有很高的不確定性。與這種方法不同，PolaCHEXTM有條理地搜索最大和最小透過率，確保了具有較高和較低PDL值的器件在任何時(shí)刻的測量精度，可獲得最精確的PDL值。
主要特征 
返回列表頁產(chǎn)品特點(diǎn)
. 30 ms的測量速度
典型應(yīng)用
·較寬的波長范圍
產(chǎn)品特征
-PDL測量精度高
標(biāo)準(zhǔn)模塊光學(xué)參數(shù)
| 參數(shù) | 主要參數(shù)信息 |
|---|---|
| PDL-201 | |
| 波長 | 1260-1620 nm |
| 分辨率 | 0.01 dB |
| PDL精確度1 2 3 | ±(0.01 + 5 of PDL)(dB) |
| PDL重復(fù)性1 | ±(0.005+ 2 of PDL)(dB) |
| PDL動態(tài)范圍4: | 0 to 45 dB |
| IL精確度1 2 3 | ±(0.01 + 5 of lL)(dB) |
| IL重復(fù)性1 | ±(0.005 dB + 2 of lL)(dB) |
| IL動態(tài)范圍4 | 0 to 45 dB |
| 輸入光功率 | -40 to 6 dBm |
| 光功率精度 | ±0.25 dB |
| 波長校準(zhǔn)(功率測量) | 1260-1360 nm ; 1440-1620 nm |
| 測量速度 | 30 ms/次(input -30 dBm) |
| 操作溫度 | 0 to 50℃ |
| 存儲溫度 | -20 to 70°C |
| 光連接器類型 | 光源、DUT輸入:APC |
| DUT輸出:自由空間適配器 | |
| 模擬輸出 | 0-4V PDL監(jiān)控電壓(用戶自定義PDL范圍) |
| (0-3.5V PDL線性變化 4V指示低功率) | |
| 電源供應(yīng) | 100-240VAC 50-60Hz |
| 通訊接口 | USB Ethernet RS-232 and GPIB |
| 尺寸 | 2U 19”半架寬度3.5"(H)× 8.5"(W)×14"(L) |
